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HIWIN半导体EFEM系统:整合晶圆搬运与寻边,实测破片率降低60%,突破先进制程产能瓶颈

作者:超级管理员    发布时间:2026-07-27 07:17:32

在半导体先进制程向2nm及以下节点迈进时,晶圆传输环节的微振动与微污染控制已成为影响良率的关键变量。作为全球少数具备从传动部件到系统方案垂直整合能力的厂商,HIWIN针对晶圆厂前段与封装段的全流程需求,提供了超越单一部件的完整自动化解决方案。

HIWIN半导体EFEM系统:整合晶圆搬运与寻边,实测破片率降低60%,突破先进制程产能瓶颈.png 

一、晶圆传输“三大件”的核心指标

围绕晶圆装卸、移载与预对准三大核心环节,HIWIN的关键模组在客户端经过长期验证,积累了明确的性能数据:

 

Load Port(晶圆装卸机):作为晶圆进出设备的第一道关口,支持8吋与12吋FOUP/FOSB载具共用,洁净度等级达到Class 1,并已通过SEMI-S2国际安全认证。选配的E84通讯与RFID感测功能,能确保载具在高速对接时的状态感知与信息追溯,有效避免因载具错位导致的破片风险。

 

Wafer Robot(晶圆机器人):全系列采用高刚性直驱马达(DD Motor),搭配HIWIN自制的滚珠丝杠与直线导轨,重复定位精度稳定在±0.1mm。在12吋晶圆厂的实际搬运工况中,配合末端执行器的优化设计,客户实测数据表明破片率降低了60%,同时洁净度支持至Class 1等级,满足最严苛的光刻与检测环节需求。

 

Aligner(晶圆寻边器):用于晶圆预对准,其光学与运动控制模组可实现中心重复精度±0.1mm,Notch角度重复精度±0.2°,单次寻边时间小于5.9秒。这一精度水平为后续光刻对准或AOI检测提供了可靠的晶圆姿态基准,直接关系最终工艺良率。

 

二、系统级整合:EFEM与面板级封装(PLP)方案

HIWIN的差异化价值不仅在于单机性能,更体现在EFEM(晶圆移载系统)的整机整合能力。该系统将Load Port、Robot、Aligner及控制系统垂直整合,支持弹性选配Wafer ID读取、凸片检知、FFU(风机过滤单元)等周边功能,为客户提供“即插即用”的标准化移载平台。

 

针对下一代面板级封装(PLP)需求,HIWIN已推出适用于510mm x 515mm及600mm x 600mm基板的专用EFEM方案。与圆形晶圆不同,大尺寸方形基板更重(<10kg)、翘曲更大(<±12mm),对搬运稳定性与定位精度构成新挑战。HIWIN为此开发了专用夹持式末端执行器与加长型Z轴模组,在PLP工况下仍能将重复定位精度控制在±0.1mm以内,为先进封装工艺提供了可靠的自动化基座。

 

三、垂直整合带来的客制化优势

在CMP设备、光刻机、检测设备等半导体制造环节,设备对运动系统的要求极为严苛。例如CMP设备的端面跳动需控制在±2μm以内,光刻设备的动态Yaw需小于0.3 arc-sec。HIWIN的竞争力源于其从滚珠丝杠、直线导轨、直驱电机到控制系统全部自研自制的产业链深度。这使得面对客户特殊的Z轴行程、翻转功能或抗静电牙叉需求时,能够实现快速工程响应与定制化交付,而非依赖外部供应链协调。

 

如需获取针对您制程节点的EFEM配置方案与晶圆机器人选型建议,请联系技术工程师:15250417671,或访问官网 https://www.dakaow.com 提交具体工况参数。


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