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HIWIN晶圆移载系统EFEM:100%核心组件自制,SEMI S2认证,实测破片率降60%

作者:超级管理员    发布时间:2026-09-01 09:08:55

在半导体制造迈向2nm及更先进制程的进程中,晶圆传输环节的微振动与微污染控制已成为决定良率的关键变量。HIWIN集团凭借上银科技与大银微系统的双引擎架构,实现了晶圆传输核心组件——晶圆机器人、晶圆装卸机、晶圆寻边器的100%自主研发与制造,并以此为基础,推出了通过SEMI S2认证的晶圆移载系统(EFEM),为晶圆厂和设备商提供了具备完全自主知识产权的系统级方案。

HIWIN晶圆移载系统EFEM:整合机器人与寻边器,实测寻边<5.9秒,突破先进制程微污染控制瓶颈.png 

一、核心组件实测性能数据

HIWIN的垂直整合优势,直接体现为各核心组件在实际产线验证中获得的量化指标:

 

晶圆机器人:采用高刚性直驱马达,配合自制精密滚珠丝杠与直线导轨,重复定位精度稳定在 ±0.1mm,洁净度达到 Class 1 等级。在12吋晶圆厂的实际搬运测试中,搭配客制化末端执行器后,实测破片率降低高达60%,平均无故障运行时间(MTBF)超过 21,600小时,优于SEMI标准。

 

晶圆装卸机(Load Port):作为晶圆进出设备的物理接口,支持8吋与12吋FOUP/FOSB载具,并通过SEMI S2安规认证。其标配的凸片检知与门框对接侦测功能,结合选配的晶圆扫描(Mapping)传感器和E84通讯模组,能有效预防破片与传送异常。

 

晶圆寻边器(Aligner):用于晶圆预对准,其整合谐波减速机与高解析编码器的运动控制模组,可实现圆心重复精度±0.1mm,Notch角度重复精度±0.2°,单次寻边时间小于 5.9秒。

 

二、系统级整合:EFEM与面板级封装(PLP)方案

HIWIN提供的EFEM(设备前端模块),将上述三大件与FFU(风机过滤单元)、静电消除器、控制系统等周边模组进行垂直整合。这种“关键零组件+次系统”的模式,确保了各单元间的机械、电气与通讯高度兼容,能根据光刻、检测、清洗等不同制程进行灵活配置。

 

针对下一代 面板级封装(PLP) 需求,HIWIN已推出适配 510mm x 515mm 及 600mm x 600mm 基板的专用EFEM方案。该方案需应对基板重量增至 10kg、翘曲度放宽至 ±12mm 的挑战,其大尺寸Robot与夹持式末端执行器为此进行了专项优化,整机重复精度仍能控制在 ±0.1mm,UPH(每小时产出)可达20至200片。配合大银微系统的奈米级定位平台,可进一步解决大尺寸面板检测中的累积误差问题。

 

三、全制程应用与精密传动产品线

HIWIN的半导体自动化产品已覆盖从晶圆制造到封装测试的全流程,服务于全球数十家晶圆厂。其核心优势在于能针对CMP、光刻、刻蚀等不同工艺段的特殊需求(如防水、抗静电、洁净度),提供从标准品到高度客制化末端执行器的快速响应。

 

除半导体专用设备外,HIWIN作为全球领先的精密传动元件制造商,其 HG/EG系列直线导轨、滚珠丝杠、单轴机器人及直线电机定位平台,亦是半导体设备、高端数控机床与自动化产线中实现微米级定位的核心部件。这些标准品与定制化的半导体次系统相结合,共同构成了HIWIN完整的精密传动与自动化技术生态。

 

如需获取针对您制程节点的 EFEM配置方案或精密传动元件选型建议,请联系技术工程师:15250417671,或访问官网 https://www.dakaow.com 提交具体需求。


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