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HIWIN半导体EFEM系统:搭载边缘AI与奈米级平台,PLP封装实测降低非计划停机51%

作者:超级管理员    发布时间:2026-09-02 07:10:21

在半导体先进封装与面板级封装(PLP)快速演进的过程中,晶圆移载系统的传输精度、洁净度控制与智慧化程度,已成为决定产线良率与稼动率的关键变量。HIWIN集团整合上银科技(传动元件)与大银微系统(驱动控制)的双引擎架构,实现了晶圆传输三大核心组件——晶圆机器人(Robot)、晶圆装卸机(Load Port)、晶圆寻边器(Aligner) 的100%自主开发与自制,并以此为核心构建了通过SEMI S2国际安规认证的晶圆移载系统(EFEM) 。

HIWIN晶圆移载系统EFEM:整合机器人与寻边器,实测寻边<5.9秒,突破先进制程微污染控制瓶颈.png 

一、核心组件实测数据:精度与可靠性

HIWIN的垂直整合优势直接体现在核心组件的实测性能上。在8英寸晶圆厂实测中,搭载HIWIN晶圆机器人的EFEM系统连续运行6个月零碎源报警,平均无故障时间(MTBF)突破21,600小时,远超SEMI标准要求的15,000小时。

 

晶圆机器人全系列重复定位精度±0.1mm,洁净度Class 1(ISO Class 3),Z轴行程300-500mm,R轴速度最高2000mm/s。其单次取放周期优化至2.7秒,效率较行业均值提升33%。

 

Load Port(HLP812系列)支持8吋与12吋FOUP/FOSB共用,标配晶圆凸片检知、门框对接检知、载具辨识与在席检知,选配E84通讯、RFID与晶圆扫片。本体重量仅65kg,洁净度Class 1。晶圆寻边器中心重复精度±0.1mm,Notch角度重复精度±0.2°,寻边时间<5.9秒,可处理翘曲度≤±1.5mm的晶圆。

 

二、系统级整合:EFEM与面板级封装(PLP)方案

HIWIN的价值不仅在于单机性能,更体现在系统级整合与AI赋能的前瞻布局。其EFEM透过自行研发的控制系统,可弹性选配Wafer ID读取、晶舟盒RFID感应、晶圆寻边校正、凸片检知及站点在席感测等周边配件,并整合SECS/GEM通讯协定,无缝接入晶圆厂自动化物料搬运系统。

 

针对面板级封装(PLP)带来的方形基板移载挑战,HIWIN已推出适用于510mm×515mm及600mm×600mm基板的专用EFEM方案,重复精度<±0.1mm,UPH达20-200(不含校正站),可处理厚度<4mm、重量<10kg、翘曲<±12mm的大型基板。

 

其关键在于大银微系统的奈米级定位平台,整合AI智慧调校技术后,重现精度小于±0.1μm,伺服稳定度小于±2nm,针对翘曲基板的检测与切割制程良率最高可提升90%。

 

2026年HIWIN与高通合作,将Edge AI方案导入Load Port,透过影像模组与感测元件即时监测载具对位与状态,异常响应时间从传统方案的180毫秒缩短至42毫秒,非计划停机减少51%,设备综合效率(OEE)提升至92%。

 

三、全制程应用实绩与传动产品线

HIWIN产品已覆盖晶圆制造全流程,累计交付超过1,200台套晶圆机器人,客户包含全球27家晶圆厂。典型应用涵盖CMP研磨(端面跳动±2-5μm)、光刻检测(动态Yaw<0.3角秒)、清洗蚀刻(边缘夹持客制牙叉)及AOI检测(双面大中空设计)。2023年HIWIN荣获美商应用材料(Applied Materials)最佳品质奖,验证其品质管控已达国际一线水准。

 

除半导体次系统外,HIWIN提供完整的精密传动产品线,包括HG/EG系列直线导轨(行走精度±0.5μm/100mm)、滚珠丝杠(C0级累积导程误差±1.5μm/300mm)、单轴机器人(重复精度±0.005mm)及直线电机定位平台等,可搭配EFEM方案为客户提供从传动部件到智慧系统的一站式解决方案。

 

如需获取针对您制程节点的EFEM配置方案、PLP评估或精密传动元件选型建议,请联系技术工程师:15250417671,或访问官网 https://www.dakaow.com 提交具体工况参数。


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